すべての膜厚計は、素地の材質や表面の状態に影響を受けます。ISO 19840、ASTM D7091およびSSPC-PA 2は、機器のタイプと測定条件に応じて、いくつかの類似した解決策を提案しています。1つの選択肢は、塗装されていない金属素地上で膜厚計の読取値がゼロになることを確認し、必要に応じてゼロ点調整(素地調整)を行うことです。金属表面が滑らかな場合にはDeFelskoでもこの方法を推奨しています。

さらに、図1に示すような明らかな粗面の場合には的確な対応策が必要になります。
一般的には、塗膜の厚さは粗い表面の最も高い「ピーク」から測定し、ピークの上をどれだけ塗膜で覆われているかを確認すべきだと考えられています。しかし、膜厚計では、下図の右側のように素地の表面に粗さがある場合、粗さプロファイルの最も高い山と最も深い谷の間に位置する「有効磁気特性上の表面」から膜厚を測定します。

このままだとゼロ点はブラストの山のピークより下に位置してしまうため、ピークの上の覆う塗膜の厚さを測定することはできません。ピークを覆う厚さより厚めの値が表示されてしまいます。プローブの先端を最も高いピークに確実に当て、尖ったピークだけに特性を合わせることは難しいです。そこで、適切な選択肢は、図2のようにプローブと素地表面の間に、予想される塗膜の厚さに近い校正により厚みが既知のプラスチックシム(フォイル)を置き、シム(フォイル)の厚さに1点調整をすることです。この方法が、ブラストの山のピークを覆う塗膜の厚みを最もよく再現します。

注）ゼロ点調整ではなく1点調整を行ってください
フォイルは、想定される膜厚に近いものを選択ください

標準で付属する再現性確認のためのフォイルではありません。